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    类别

    • SPM300系列半导体参数测试仪

      介绍:基于拉曼光谱半导体参数测试仪,具有非接触、无损检测、特异 性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析,空间分辨率< 800nm (典型值),也可以对样品进行扫描从而对整个面进行均匀性分析。 设备具有智能化的软件,可对数据进行拟合计算,直接将载流子浓度、 晶化率、应力大小或者分布等结果直观的展现给用户。
      品牌: Zolix
      型号:SPM300系列
    • 激光粒径仪

      介绍:ELSZ-2000激光粒径仪提供快速、准确、便捷的粒径大小测试,界连电位测试以及分子量的测试。 该分析仪可在0.6纳米至10微米粒度范围内进行粒径测量,-200到200mV间进行界达电位测量。
      品牌: 日本 大塚电子
      型号:ELSZ-2000