椭圆偏振光测量仪FE5000
介绍:通过自动多角度椭圆偏振光测量仪实现高速的薄膜膜厚测量和高精度的光学常数解析品牌: 日本 大塚电子型号:FE5000膜厚测量仪FE-300
介绍:小型・低价格!简单操作”非接触”膜厚量测仪FE-300!品牌: 日本 大塚电子型号:FE-300OPTM 半导体膜厚测试仪
介绍:测量目标膜的绝对反射率,实现高精度膜厚和光学常数测试! (分光干渉法)品牌: 日本 大塚电子型号:optm椭圆偏振光测量仪FE5000
介绍:通过自动多角度椭圆偏振光测量仪实现高速的薄膜膜厚测量和高精度的光学常数解析品牌: 日本 大塚电子型号:FE5000膜厚测量仪FE-300
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介绍:测量目标膜的绝对反射率,实现高精度膜厚和光学常数测试! (分光干渉法)品牌: 日本 大塚电子型号:optm