iDus 420系列光谱CCD探测器
简 述：
iDus 420系列深度制冷科学级光谱CCD 基于1024×255 规格CCD 芯片，包含多种选项来满足不同的实验需求。采用真空密封技术，保证了制冷温度及耐久性。
品 牌：
英国 Andor
产品型号：
- iDus 420
iDus 420 系列深度制冷科学级光谱CCD 基于1024×255 规格CCD 芯片，包含多种选项来满足不同的实验需求。采用真空密封技术，保证了制冷温度及耐久性。
iDus 420系列光谱CCD探测器主要特点
iDus 420系列光谱CCD探测器主要特点
• 峰值量子效率>95%
• TE 制冷，*低-100℃
• UltraVac™ 真空密封技术，保证5 年真空质保
• 单光窗设计，将光损失降至*低
• Fringe suppression 技术（条纹抑制），消除背感光CCD的etalon( 干涉)效应
• Dual AR 双镀膜选项，同时提升紫外及近红外波段量子效率
iDus 420系列光谱CCD探测器技术参数指标：
型号 | DV420A | DU420A | DU420A-Bx-DD |
芯片类型 | BV：背感光，可见波段优化 BU：背感光，紫外增强350nm 优化 BU2：背感光，紫外增强250nm 优化 BVF：背感光，可见光波段优化以及消除近红外etalon 镀膜 OE：开放电极 | BR-DD：背感光深耗尽CCD。带有消除近红外波段的etalon 镀膜 BEX2-DD：背感光深耗尽CCD。带有消除近红外波段的etalon 镀膜以及波段扩展双层抗反射膜 | |
有效像素 | 1024×255 | 1024×256 | |
像元尺寸 | 26μm×26μm | ||
探测面尺寸 | 26.6 mm×6.6 mm | ||
最大光谱采集速度 | 88 (10 rows crop mode), 75 (Full Vertical Bin), 65 ( 开放电极, Full Vertical Bin) | ||
线性度 | >99% | ||
最小读出噪声 | OE：<4 e- ，BU, BU2, BVF：<6 e- | BR-DD：<4 e- | |
暗电流 | OE：0.0004 e- /pixel/sec @-100℃， BU/BU2：0.002 e- /pixel/sec @-100℃ , BVF：0.002 e- /pixel/sec @-100℃ | Bx-DD：0.008 e- /pixel/sec @-100℃ | |
最低制冷温度 | -70℃ | -100℃ | -100℃ |
光窗类型 | 单石英窗口，无镀膜。防反射膜或MgF2 可选 | BR-DD：单石英窗口, 防反射镀膜（900nm 优化） BEX2-DD：单石英窗口，无镀膜 | |
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