OLED 残影测试系统
简 述：
ZL-ISS 是一套卓立汉光专门针对OLED 屏幕短期残影的表征系统，采用高灵敏度的快速亮度计，实现高效表征屏幕的残影现象
品 牌：
Zolix
产品型号：
- ZL-ISS
目前市面主流的OLED 屏幕手机普遍存在烧屏现象，众所周知，烧屏现象是一个长期累积的过程，所以终端厂商普遍要求屏厂提供短期的残影测试报告，以便能够管控OLED 屏幕的品质，降低烧屏现象；
ZL-ISS 是一套卓立汉光专门针对OLED 屏幕短期残影的表征系统，采用高灵敏度的快速亮度计，实现高效表征屏幕的残影现象；
主要功能
• 短期残影测试；
• 亮度均匀性测试；
• 屏幕长期稳定性测试
软件界面
技术规格参数 | |||
亮度范围 | 0.0001 to 100000cd/m2 | 亮度精度 | ±3%*1 |
像素 | 1900*1200 | 采样速率 | ≥1fps*2 |
镜头 | 24mm,28mm,35mm,50mm 可选 | 工作距离 | ＞ 350mm |
空间分辨率 | 0.12mm*3 | PG | 可支持市面主流厂商 PG |
样品最大尺寸 | 190mmX110mm*3 | 样品类型 | 手机屏 \ 模组 |
稳定性 | <0.5% | Pattern | 客户可自定义 Pattern |
*1:A 光源条件下测试精度；*2: 曝光时间<200ms; *3: 测试条件为28mm 镜头，工作距离为500mm
探头稳定性曲线
某国产手机屏幕短期残影曲线
某国产手机屏幕短期残影曲线
13810233784
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